langer朗格爾E 1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)

E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)說明

       E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)是電子研發(fā)工程師對(duì)組件進(jìn)行快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等脈沖抗干擾測(cè)試的成熟工具。利用該工具，可以對(duì)模塊進(jìn)行小空間范圍內(nèi)的抗干擾度分析。在對(duì)受試設(shè)備（EUT）的抗干擾分析中，能夠選擇性地給部分模塊或部分路段注入干擾電流（干擾電流路徑），以及能夠?qū)ζ浔砻娴倪x定區(qū)域施加電脈沖場(chǎng)（E 場(chǎng)）或磁脈沖場(chǎng)（H 場(chǎng)）正是快速、準(zhǔn)確定位薄弱點(diǎn)的關(guān)鍵。另外，使用本系統(tǒng)還可以在施加脈沖干擾的同時(shí)，進(jìn)行無(wú)反作用的光纖信號(hào)監(jiān)測(cè)。

E1 干擾發(fā)射開發(fā)系統(tǒng)的著重點(diǎn)是對(duì)系統(tǒng)開發(fā)過程的支持。利用 E1 系統(tǒng)，開發(fā)人員可以在工作場(chǎng)地排查設(shè)備/組件的干擾問題，或者通過了解干擾問題的直接原因，測(cè)量評(píng)估修改措施的效果，增強(qiáng)設(shè)備/組件的抗干擾度。

E1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)不能用來進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)兼容性測(cè)試，但是按照 IEC 61000-4-4 和 IEC 61000-4-2 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)組件進(jìn)行抗干擾的測(cè)試結(jié)果，是使用 E1 系統(tǒng)進(jìn)行抗干擾測(cè)試的良好基礎(chǔ)。通用脈沖群發(fā)生器產(chǎn)生的標(biāo)準(zhǔn)干擾信號(hào)被耦合到輸入端，并通過地線回流到發(fā)生器。這些脈沖狀的干擾信號(hào)流過設(shè)備組件的路徑是未知的。在設(shè)備當(dāng)中，未知的部分干擾信號(hào)流入某個(gè)未知的接受載體而產(chǎn)生功能故障。這個(gè)薄弱點(diǎn)的位置往往僅局限在組件上幾平方厘米的范圍內(nèi)，但是通過標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法很難對(duì)其定位。開發(fā)人員還不知道，是否是干擾電流及其磁場(chǎng)以及在什么位置導(dǎo)致導(dǎo)線回路中產(chǎn)生感應(yīng)電壓脈沖，或者電場(chǎng)容性耦合進(jìn)入了敏感線路。

如果設(shè)備通不過標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，其重要的測(cè)試結(jié)果是關(guān)于功能故障類型的詳細(xì)信息。但是僅憑借這些故障信息尚無(wú)法具體定位受試設(shè)備中的薄弱點(diǎn)。所以，建議先對(duì)受試設(shè)備進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的抗干擾測(cè)試，確定可能的故障現(xiàn)象，然后開發(fā)人員根據(jù)這些故障現(xiàn)象，在產(chǎn)品開發(fā)場(chǎng)地利用 E1 系統(tǒng)定位

故障點(diǎn)及分析故障原因，給出排除干擾問題、設(shè)計(jì)修改等解決辦法，并使用 E1 開發(fā)系統(tǒng)，評(píng)估各項(xiàng)修改措施的有效性。

借助 E1 系統(tǒng)，開發(fā)人員可以顯著節(jié)約產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間、降低開發(fā)成本。

Langer BS 02

Langer BS 04DB 

Langer BS 05DU 

Langer BS 05D

Langer ES 00 

Langer ES 01

Langer ES 02

ES 05D

ES 08D

SGZ 21

S21

HFW 21 RF

HFA 21 RF

RF-U 5-2

MFA-K 0.1-12

Langer A100-1

langerA100-2

Langer XF-R 100-1

Langer RF-U 2.5-2

Langer F-E 05

Langer RF-E 05

langer朗格爾E 1 抗干擾開發(fā)系統(tǒng)